← back to authors

Monu Nath Baitha

🔕 sledovat

1 papers · first: 2026-07-01 · last: 2026-07-01

1
Papers
0.0
Max score
0.0
Avg score
Max AD (0 relevant)

📄 Papers

Bridging Quantum Computing Paradigms toward Semiconductor Yield: A Controlled CV-versus-DV Comparison on Wafer-Map Defect Classification
7.8
⭐⭐

quant-ph · 2026-07-01

Tento článek porovnává kvantové neuronové sítě s kontinuálními (CV) a diskrétními (DV) proměnnými pro klasifikaci defektů na polovodičových deskách. Zjistili, že CV sítě konzistentně překonávají DV sítě, zejména u jemných prostorových rozlišení, ačko