Electrical Noise Produced by Micron-Sized Particles above a Surface Paul Trap
📄 arXiv:2606.19585 · 📥 PDF · 2026-06-17 · physics.atom-ph
Authors: Ben Saarel [arXiv · scholar] , Ozgur Sahin [arXiv · scholar] , Hartmut Häffner [arXiv · scholar] , Alpha T. N'Diaye [arXiv · scholar]
🕰 Orloj analysis
Tento článek zkoumá elektrický šum v povrchových Paulových pastech, který snižuje věrnost kvantových výpočtů, a jehož mikroskopický původ je nejasný. Autoři zjistili, že šum se výrazně liší podél osy pasti a koreluje s přítomností mikronových částic, které modelují jako ztrátový dielektrikum.
💡 Práce přináší nové a cenné vysvětlení dlouhodobého problému s šumem v iontových pastech, což může vést ke zlepšení kvantových počítačů.
✓ falsifiable, limit_reductions, modest_claims, error_bars
📄 Abstract
Electric field noise produced by the surface of ion trap electrodes reduces the fidelity of quantum computing operations. Despite decades of investigation its microscopic origins remain unclear. Here, we measure electric field noise at trapping locations along the symmetry axis of a linear surface Paul trap. We find that noise levels vary by three orders-of-magnitude in one 600$\,μ$m section of the trap. Optical and scanning electron microscope images show micron-sized particles close to the trapping locations with the highest noise levels. We find that modeling the particles as a lossy dielectric with a effective loss tangent $\tanθ=0.33(0.06)$ describes the magnitude of the noise, as well as its spatial and frequency dependence. Our observations may explain the large variation of reported noise levels in literature.