← back to authors

Johanna Laaksonen

🔕 sledovat

1 papers · first: 2026-06-17 · last: 2026-06-17

1
Papers
0.0
Max score
0.0
Avg score
Max AD (0 relevant)

📄 Papers

Role of Local Structural Variation in X-ray Photoelectron Spectrum of Silicon Oxide Interfaces
8.1

cond-mat.dis-nn · 2026-06-17

Tato práce ukazuje, že široké čáry rentgenové fotoelektronové spektroskopie (XPS) oxidu křemíku na křemíku pocházejí ze spojité statistické distribuce vazebných energií. Statistické simulace v celém rozsahu složení od Si po SiO$_2$ reprodukují toto r